N-SIM
Nikon’un super resolution sistemleri hücresel yapıların ve moleküler aktivitelerin gözlenmesi için hiçbir zaman şu ana kadar elde edilmeyen çözünürlüklere ulaşmıştır.
Nikon UCSF tarafında geliştirilmiş ve patentlenmiş “Structural Illumination Microscopy” tekniği ile Ti-E serisi inverted mikroskop ve APO TIRF (N.A 1.49) süper kalite objektifi kullanarak optik mikroskopların elde edebileceği çözünürlüğün 2 katına ulaşmıştır. N-SIM ayrıca zaman çözünürlüğüne göre saniye de 0.6 kare hız ile pazarda en gelişmiş görüntüleme teknolojisini kullanmaktadır.
• Konvensiyonel optik mikroskopların 2 kat daha fazla çözünürlüğe ulaşmaktadır.
• Canlı görüntüleme için zaman çözünürlülüğü 0.6 kare/sn’dir.
• Yeni geliştirilmiş SIM – TIRF (Total Internal Reflection Flouresence) tekniği ile hücre zarı görüntülemesinde konvansiyonel TIRF mikroskoplarından belirgin olarak çok daha fazla yapısal detayı yüksek çözünürlükte görüntülemeyi başarmıştır.
• 3D-SIM tekniği ile optik kesitleme yapılabilmektedir ve hücre yapılarının detaylı bir şekilde yüksek çözünürlükte görüntülemesi yapılabilmektedir.
